SiC由于最終的氧化產(chǎn)物為SiO2反應的持續(xù)與否取決于產(chǎn)物SiO2層的穩(wěn)定性，即在高氧分壓時，容易形成穩(wěn)定、致密的SiO2保護層，進而限制氧化反應的繼續(xù)進行。反之，氧分壓低時，則難以形成這種抗氧化的SiO2 致密層。通常前者稱為非活性氧化或保護型氧化，后者稱為活性氧化或連續(xù)型氧化。

可以看出，當外界氧分壓PO2。超過由于氧化反應而形成的氣相分壓ps10,時,Si或SiC將發(fā)生非活性氧化,從而在其顆粒表面形成致密的SiO2保護層,結果將阻止內(nèi)部顆粒的繼續(xù)氧化而 發(fā)揮有效的保護作用。反之，則發(fā)生活性氧化，不能形成穩(wěn)定的SiO2保護層。通過SiO的揮發(fā)，不斷地將新的Si或SiC顆粒表面暴露在氧氣氛中，因而在高溫和較長時間內(nèi)，氣氛中微弱的氧勢也可能因周而復始的氧化作用而導致SiC材質(zhì)的蝕損。

另外堿金屬K2O和Na2O對碳化硅磚的穩(wěn)定性影響很大，只要碳化硅磚工作面出現(xiàn)SiO2氣態(tài)或熔態(tài)堿金屬就有可能與之結合形成K2O·SiO2（熔點976℃）、K2O·2SiO2（熔點1045℃）等低熔點化合物。這些化合物將降低碳化硅磚工作面的耐火度及耐磨性。在氣流沖刷和爐料磨擦下，蝕損剝落或熔化，將使碳化硅磚在通常條件下的非活性氧化轉(zhuǎn)化為侵蝕條件下的活性氧化，此外還應注意到堿蝕后的碳化硅磚中不僅發(fā)現(xiàn)有鉀的硅酸鹽，同時還應注意Fe2O3與堿蝕后的硅酸鉀及二硅酸鉀形成了KFeSi3O8鐵鉀硅酸鹽.這種化合物的生成很可能是導致 碳化硅磚產(chǎn)生 “ 溶洞 ” 蝕損的直接原因。因此，控制碳化硅磚中的雜質(zhì)，特別是含鐵雜質(zhì) 是極端重要的。